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能量色散X荧光光谱仪 XRF

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X荧光贵金属检测仪

型号:EDX3000PLUS
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产品说明、技术参数及配置

天瑞新型X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能独到。采用25mm2大面积探测器,可准确无误地分析出黄金,铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量,测试结果完全符合国标GB/T 18043-2000要求。

黄金贵重,仪器贵精。EDX 3000 PLUS闪耀的亮点在于高准确度、高分辨率、更清晰的摄像头、一键式智能操作,一切让贵金属检测如此简单!

性能优势

高分辨率:
采用FAST-SDD探测器 ,分辨率可达125ev , 能更好的检测铂金中铱和金的含量。

高准确度,性能优:
使用25mm2大面积探测器,大大提高样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器技术,提高分析速度,总体提高系统处理能力,计数率大可达8万,比Si-PIN 6mm2探头提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。

清晰摄像头,准确定位:
采用新型工业级相机,样品图像更加清晰,轻松实现精准定位。

小准直器,轻松实现精小部位测试:
提供多种准直器,直径小达0.2mm,可轻松实现精小部位的准确测试,同时可根据测试需求电动切换准直器,使测量更加轻松更加准确。

一键式智能式操作,省去选曲线烦恼:
FP法的完整使用,只需一键操作即可智能化自动匹配曲线,操作一步到位。

仪器配置

移动样品平台
FAST-SDD探测器
数字多道分析系统
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
外观尺寸: 550×416×333mm
样品腔尺寸:460×298×98mm
质量:45Kg

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测

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