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能量色散X荧光光谱仪 XRF

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X荧光合金分析仪

型号:EDX3600H
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产品说明、技术参数及配置

天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球领先的合金分析技术,配备合金测试效果最佳的智能真空系统,利用低能光管配合真空测试,可以有效的降低干扰,提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。

EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合金牌号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。

性能特点:

高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平
针对合金的测试而开发的专用配件
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性;
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制;
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

标准配置:

合金测试高效超薄窗X光管
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构,力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg

技术指标:

测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:60秒-200秒
能量分辨率为:(140±5)eV
管压:5KV-50KV
管流:50uA-1000uA

应用领域:

检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品