科技部副部长一行视察天瑞仪器
发布日期:2010-05-20 点击次数: 1725
2010年5月18日,科技部领导来昆考察,在昆山张国华、市委副书记、市长管爱国、玉山镇党委书记朱凤泉、副市长黄健等人陪同下,科技部副部长杜占元一行于当日下午视察天瑞仪器。
在天瑞仪器董事长刘召贵博士下,各领导一行参观了天瑞仪器展示厅,核心元器件、天瑞荣誉走廊、产品展厅,都驻足观看了许久。
在参观过程中,杜副部长对于天瑞仪器的手持式X荧光光谱分析仪表示了很大的兴趣,作为科技部支持的高科技转化项目,目前已经是第三代产品,副部长杜占元对天瑞仪器此项产品的开发进度表示赞赏,尤其是如此轻巧简便的手持式仪器,对于地矿、钢铁等现场快速分析等行业,有着广阔的应用前景和市场潜力。
科技部副部长杜占元在手持式地矿分析仪前与刘博士款款而谈
近日,科技部徐冠华院士与副部长杜占元等领导的频频莅临视察、指导,体现了对天瑞仪器的高度关注度和对国产分析测试仪器的支持力度。天瑞仪器经过近几年的持续高速发展,多次引起各级领导的关注。在振兴国内仪器产业的大背景下,作为国内分析测试仪器领军企业,努力做好自己应尽的责任。