“XRF技术新进展及应用研讨会”在厦门成功举办
发布日期：2007-08-01 点击次数： 914
激情盛夏，激情天瑞！2007年7月28日上午9：30，来自福建各地包括厦门出入境检验检疫局、第三方机构ITS、电子电器行业、有色冶金行业、硅酸盐行业等各行业代表一百余人，齐聚厦门喜来登酒店参加天瑞仪器公司福建办举办的“XRF技术新进展及应用研讨会”。
研讨会由天瑞仪器公司余正东副总经理主讲，在上午整个演讲过程中主要与用户交流和探讨了电子行业RoHS领域、镀层分析领域及成分分析领域的热点和难点问题，并向业界通报天瑞仪器过去一年的工作进展；特邀嘉宾ITS实验室负责人介绍了RoHS指令生效一年多的时间里业界的执行情况及以后的发展动态。在研讨会的后，主办方与与会者进行了友好的互动问答，就共同关心的问题坦诚深入地交换了意见。12：30分，研讨会在热烈的掌声中闭幕。
下午，主办方邀请部分与会者参观天瑞公司福建办事处并向客户展示了天瑞仪器的新技术和产品。期间，双方继续就相关问题进行探讨，现场气氛热烈，互动良好。
通过此次研讨会，我福建办增强了与广大客户的互动联系，广大的客户群体也增加了对我天瑞公司以及产品的了解。
会议主讲人余正东副总经理
余总向大家结束"X荧光的基本概念"
现场客户
